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服务人民 面向未来
发布时间:2023-8-14 15:48:22 拍摄时间: 2022-6-30 17:25:55
标题:研究人员对文物进行大幅面X射线荧光分析检测
研究人员对文物进行大幅面X射线荧光分析检测。
作者:
中国国家博物馆 供图
图片ID:
424022
拍摄时间:
2022-6-30 17:25:55
地点:
北京
尺寸:
3500*2716
JPG大小:
2226KB
下载: